DIN EN 60749-38:2008-10

Halbleiterbauelemente -

Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 38: Soft-Error-Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente mit Speicher

In diesem Teil der DIN EN 60749 ist ein Verfahren zur Messung der Fähigkeit des Datenerhalts von Halbleiterbauelementen mit Speichern festgelegt, wenn diese Bauelemente einer Beanspruchung mit hochenergetischen Teilchen wie der Alpha-Strahlung ausgesetzt sind. Zwei Prüfarten sind beschrieben: die eine mit einer beschleunigenden Prüfbeanspruchung unter Verwendung einer Alpha-Strahlenquelle und die andere als eine (nicht beschleunigende) Beanspruchung unter Realzeit-Systembedingungen, bei welcher beliebige Fehler unter den Bedingungen der natürlich auftretenden Strahlung erzeugt werden, wobei diese Strahlung sowohl Alpha-Strahlung als auch andere Strahlungen wie beispielsweise Neutronenstrahlung enthalten kann.
Zuständig ist das K 631 "Halbleiterbauelemente" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.
Th. B. Lieber