DIN EN 62374:2008-02

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Halbleiterbauelemente -

Prüfung des zeitabhängigen dielektrischen Durchbruchs (TDDB) für dielektrische Gate-Schichten

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Enthält:

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19.10.2007 Historisch
EN 62374:2007-10
Halbleiterbauelemente - Prüfung des zeitabhängigen dielektrischen Durchbruchs (TDDB) für dielektrische Gate-Schichten
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29.03.2007 Aktuell
IEC 62374:2007-03
Halbleiterbauelemente - Prüfung des zeitabhängigen dielektrischen Durchbruchs (TDDB) für dielektrische Gate-Schichten

Entwurf war:

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01.09.2004 Historisch
E DIN IEC 62374:2004-09
Beanspruchung auf zeitabhängigen dielektrischen Durchbruch (TDDB) (IEC 47/1764/CD:2004)

Dieses Dokument entspricht:

NationalEuropäischInternational

DIN EN 62374:2008-02

EN 62374:2007-10

IEC 62374:2007-03
Dokumentart
Norm
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
01.02.2008
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
DKE/K 631
Kontakt
Referat
Elena Rongen
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

v2v4r.854xv4QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-429

Referatsassistenz
Ewa Amrhein
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

vBr.r38yvz4QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-370

Themen

Elektronik-Bauelemente
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