DIN EN 62374:2008-02

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Halbleiterbauelemente -

Prüfung des zeitabhängigen dielektrischen Durchbruchs (TDDB) für dielektrische Gate-Schichten

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Enthält:

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19.10.2007 Historisch
EN 62374:2007-10
Halbleiterbauelemente - Prüfung des zeitabhängigen dielektrischen Durchbruchs (TDDB) für dielektrische Gate-Schichten
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30.03.2007 Aktuell
IEC 62374:2007-03
Halbleiterbauelemente - Prüfung des zeitabhängigen dielektrischen Durchbruchs (TDDB) für dielektrische Gate-Schichten

Entwurf war:

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01.09.2004 Historisch
E DIN IEC 62374:2004-09
Beanspruchung auf zeitabhängigen dielektrischen Durchbruch (TDDB) (IEC 47/1764/CD:2004)

Dieses Dokument entspricht:

NationalEuropäischInternational

DIN EN 62374:2008-02

EN 62374:2007-10

IEC 62374:2007-03
Dokumentart
Norm
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
01.02.2008
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
DKE/K 631

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Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

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Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
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