DIN V VDE V 0126-18-4-2 (VDE V 0126-18-4-2):2007-06
Teil 4-2: Verfahren zur Messung der elektrischen Eigenschaften von Siliciumscheiben - Minoritätsladungsträgerlebensdauer, Labor-Messmethode
Teil 4-2: Verfahren zur Messung der elektrischen Eigenschaften von Siliciumscheiben - Minoritätsladungsträgerlebensdauer, Labor-Messmethode
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