DIN EN 62047-2:2007-02

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Halbleiterbauelemente -

Bauteile der Mikrosystemtechnik Teil 2: Prüfverfahren zur Zugbeanspruchung bei Dünnschicht-Werkstoffen

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20.09.2006 Aktuell
EN 62047-2:2006-09
Halbleiterbauelemente - Bauteile der Mikrosystemtechnik - Teil 2: Prüfverfahren zur Zugbeanspruchung bei Dünnschicht-Werkstoffen
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15.08.2006 Aktuell
IEC 62047-2:2006-08
Halbleiterbauelemente - Bauteile der Mikrosystemtechnik - Teil 2: Prüfverfahren zur Zugbeanspruchung bei Dünnschicht-Werkstoffen - Teil 2: Prüfverfahren zur Zugbeanspruchung bei Dünnschicht-Werkstoffen

Entwurf war:

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01.08.2004 Historisch
E DIN IEC 62047-2:2004-08
Bauteile der Mikrosystemtechnik - Teil 2: Prüfverfahren zur Zugbeanspruchung bei Dünnschicht-Werkstoffen (IEC 47/1759/CD:2004)

Dieses Dokument entspricht:

NationalEuropäischInternational

DIN EN 62047-2:2007-02

EN 62047-2:2006-09

IEC 62047-2:2006-08
Dokumentart
Norm
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
01.02.2007
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
DKE/K 631
Kontakt
Referat
Elena Rongen
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

v2v4r.854xv4QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-429

Referatsassistenz
Ewa Amrhein
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

vBr.r38yvz4QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-370

Themen

Elektronik-Bauelemente
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