DIN EN 62373:2007-01

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Stabilitätsprüfung unter Temperatur-

Spannungs-Beanspruchung für Feldeffekttransistoren mit Metalloxid-Halbleiter (MOSFET)

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Enthält:

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10.08.2006 Aktuell
EN 62373:2006-08
Stabilitätsprüfung unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung für Feldeffekttransistoren mit Metalloxid-Halbleiter (MOSFET)
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19.07.2006 Aktuell
IEC 62373:2006-07
Stabilitätsprüfung unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung für Feldeffekttransistoren mit Metalloxid-Halbleiter (MOSFET)

Entwurf war:

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01.09.2004 Historisch
E DIN IEC 62373:2004-09
Stabilität von MOSFET unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung (IEC 47/1763/CD:2004)

Dieses Dokument entspricht:

NationalEuropäischInternational

DIN EN 62373:2007-01

EN 62373:2006-08

IEC 62373:2006-07
Dokumentart
Norm
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
01.01.2007
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
DKE/K 631

Kontakt

Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

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Referatsassistenz
Betina Vlonga
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