DIN EN 62276:2006-04

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Einkristall-

Wafer für Oberflächenwellen-(OFW-)Bauelemente - Festlegungen und Messverfahren

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Enthält:

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01.12.2005 Historisch
EN 62276:2005-12
Einkristall-Wafer für Oberflächenwellen-(OFW-)Bauelemente - Festlegungen und Messverfahren
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31.05.2005 Historisch
IEC 62276:2005-05
Einkristall-Wafer für Oberflächenwellen- (OFW-) Bauelemente - Festlegungen und Messverfahren

Entwurf war:

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01.11.2003 Historisch
E DIN IEC 62276:2003-11
Einkristall-Wafer für Oberflächenwellen- (OFW-) Bauelemente - Festlegungen und Messverfahren (IEC 49/597/CD:2003)

Ersetzt bzw. ergänzt:

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01.08.2013 Historisch
DIN EN 62276:2013-08
Einkristall-Wafer für Oberflächenwellen-(OFW-)Bauelemente - Festlegungen und Messverfahren (IEC 62276:2012); Deutsche Fassung EN 62276:2013

Dieses Dokument entspricht:

NationalEuropäischInternational

DIN EN 62276:2006-04

EN 62276:2005-12

IEC 62276:2005-05
Dokumentart
Norm
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
01.04.2006
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
DKE/K 642
Kontakt
Referat
Daniel Failer
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

ur4zv2.wrz2v8QAuv.t53

Referatsassistenz
Marina El Sleiman
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

3r8z4r.v292vz3r4QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-327

Themen

Elektronik-Bauelemente
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