DIN EN 60512-2-6:2003-01

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Steckverbinder für elektronische Einrichtungen -

Mess- und Prüfverfahren Teil 2-6: Prüfungen des elektrischen Durchgangs und Durchgangswiderstands - Prüfung 2f: Durchgangswiderstand Gehäuse (Schirm);

Beziehungen

Ersatz für:

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01.05.1994 Historisch

DIN IEC 60512-2:1994-05

Elektrisch-mechanische Bauelemente für elektronische Einrichtungen; Meß- und Prüfverfahren; Teil 2: Allgemeine Untersuchungen, Prüfungen des elektrischen Durchganges und Durchgangswiderstandes, Prüfung der Isolation und Prüfungen mit Spannungsbeanspruchung; Identisch mit IEC 60512-2:1985

Enthält:

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12.04.2002 Aktuell

EN 60512-2-6:2002-04

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22.02.2002 Aktuell

IEC 60512-2-6:2002-02

Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 2-6: Prüfungen des elektrischen Durchgangs und Durchgangswiderstands - Prüfung 2f: Durchgangswiderstand Gehäuse (Schirm) - Teil 2-6: Prüfungen des elektrischen Durchgangs und Durchgangswiderstands - Prüfung 2f: Durchgangswiderstand Gehäuse (Schirm)

Entwurf war:

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01.03.2000 Historisch

E DIN IEC 48B/828/CD:2000-03

Elektrisch-mechanische Bauelemente für elektronische Einrichtungen - Meß- und Prüfverfahren - Teil 2-6: Prüfungen des elektrischen Durchganges und Durchgangswiderstandes - Prüfung 2f: Durchgangswiderstand - Gehäuse/Schirm (IEC 48B/828/CD:1999)