DIN EN 60512-25-4:2002-08

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Steckverbinder für elektronische Einrichtungen -

Mess- und Prüfverfahren Teil 25-4: Prüfung 25d - Laufzeitverzögerung

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29.10.2001 Aktuell

EN 60512-25-4:2001-10

Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess-und Prüfverfahren - Teil 25-4: Prüfung 25d - Laufzeitverzögerung

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01.07.2001 Aktuell

IEC 60512-25-4:2001-07

Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-4: Prüfung 25d - Laufzeitverzögerung

Entwurf war:

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01.02.2000 Historisch

E DIN IEC 48B/784/CD:2000-02

Elektrisch-mechanische Bauelemente für elektronische Einrichtungen Meß- und Prüfverfahren - Teil 25: Hauptabschnitt 4: Prüfung der Laufzeit-Verzögerung (IEC 48B/784/CD:1999)

Dieses Dokument entspricht:

National	Europäisch	International
DIN EN 60512-25-4:2002-08	EN 60512-25-4:2001-10	IEC 60512-25-4:2001-07

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