DIN EN 60512-25-3:2002-08

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Steckverbinder für elektronische Einrichtungen -

Mess- und Prüfverfahren Teil 25-3: Prüfung 25c - Veränderung der Anstiegszeit

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29.10.2001 Aktuell

EN 60512-25-3:2001-10

Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess-und Prüfverfahren - Teil 25-3: Prüfung 25c - Veränderung der Anstiegszeit

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26.07.2001 Aktuell

IEC 60512-25-3:2001-07

Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-3: Prüfung 25c - Veränderung der Anstiegszeit - Teil 25-3: Prüfung 25c - Veränderung der Anstiegszeit

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01.02.2000 Historisch

E DIN IEC 48B/780/CD:2000-02

Elektrisch-mechanische Bauelemente für elektronische Einrichtungen; Meß- und Prüfverfahren - Teil 25: Hauptabschnitt 3: Prüfverfahren; Veränderungen der Anstiegszeit (IEC 48B/780/CD:1999)