DIN EN 60512-25-3:2002-08

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Steckverbinder für elektronische Einrichtungen -

Mess- und Prüfverfahren Teil 25-3: Prüfung 25c - Veränderung der Anstiegszeit

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Enthält:

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29.10.2001 Aktuell
EN 60512-25-3:2001-10
Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess-und Prüfverfahren - Teil 25-3: Prüfung 25c - Veränderung der Anstiegszeit
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26.07.2001 Aktuell
IEC 60512-25-3:2001-07
Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-3: Prüfung 25c - Veränderung der Anstiegszeit - Teil 25-3: Prüfung 25c - Veränderung der Anstiegszeit

Entwurf war:

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01.02.2000 Historisch
E DIN IEC 48B/780/CD:2000-02
Elektrisch-mechanische Bauelemente für elektronische Einrichtungen; Meß- und Prüfverfahren - Teil 25: Hauptabschnitt 3: Prüfverfahren; Veränderungen der Anstiegszeit (IEC 48B/780/CD:1999)

Dieses Dokument entspricht:

Dokumentart
Norm
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
01.08.2002
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
Kontakt
Referat
Dipl.-Ing. Thomas Sentko
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

_y53r9.9v4_15QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-209

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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