DIN IEC 60749:1987-09

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Ersatz für:

Standards
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01.06.1972 Historisch
DIN 41794-1:1972-06
Zuverlässigkeitsangaben für Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen; Allgemeine Angaben

Ersetzt bzw. ergänzt:

Standards
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01.02.2000 Historisch
DIN EN 60749:2000-02
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren (IEC 60749:1996); Deutsche Fassung EN 60749:1999

Dieses Dokument entspricht:

Dokumentart
Norm
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
01.09.1987
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
Kontakt
Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

9_z6v.3r4uztQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-573

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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