EN 62047-10:2011-09

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Halbleiterbauelemente -

Bauelemente der Mikrosystemtechnik Teil 10: Druckprüfverfahren an zylinderförmigen Mikroproben für Werkstoffe der Mikrosystemtechnik

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26.07.2011 Aktuell
IEC 62047-10:2011-07
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 10: Druckprüfverfahren an zylinderförmigen Mikroproben für Werkstoffe der Mikrosystemtechnik

Entwurf war:

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06.05.2011 Historisch
FprEN 62047-10:2011-05
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik -- Teil 10: Druckprüfverfahren an zylinderförmigen Mikroproben für Werkstoffe der Mikrosystemtechnik

Dieses Dokument entspricht:

EuropäischInternational

EN 62047-10:2011-09

IEC 62047-10:2011-07
Dokumentart
Europäische Norm
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
09.09.2011
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
DKE/K 631

Kontakt

Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

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Referatsassistenz
Betina Vlonga
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