EN 62047-10:2011-09

Standards
putilov_denis / Fotolia

Halbleiterbauelemente -

Bauelemente der Mikrosystemtechnik Teil 10: Druckprüfverfahren an zylinderförmigen Mikroproben für Werkstoffe der Mikrosystemtechnik

Beziehungen

Enthält:

Standards
putilov_denis / Fotolia
26.07.2011 Aktuell
IEC 62047-10:2011-07
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 10: Druckprüfverfahren an zylinderförmigen Mikroproben für Werkstoffe der Mikrosystemtechnik - Teil 10: Druckprüfverfahren an zylinderförmigen Mikroproben für Werkstoffe der Mikrosystemtechnik

Entwurf war:

Standards
putilov_denis / Fotolia
06.05.2011 Historisch
FprEN 62047-10:2011-05
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik -- Teil 10: Druckprüfverfahren an zylinderförmigen Mikroproben für Werkstoffe der Mikrosystemtechnik

Dieses Dokument entspricht:

EuropäischInternational

EN 62047-10:2011-09

IEC 62047-10:2011-07
Dokumentart
Europäische Norm
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
09.09.2011
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
DKE/K 631
Kontakt
Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

9_z6v.3r4uztQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-573

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

Themen

Elektronik-Bauelemente
DKE Newsletter-Seitenbild
sdx15 / stock.adobe.com

Mit unserem DKE Newsletter sind Sie immer top informiert! Monatlich ...

  • fassen wir die wichtigsten Entwicklungen in der Normung kurz zusammen
  • berichten wir über aktuelle Arbeitsergebnisse, Publikationen und Entwürfe
  • informieren wir Sie bereits frühzeitig über zukünftige Veranstaltungen
Ich möchte den DKE Newsletter erhalten!

Werden Sie aktiv!

Ergebnisse rund um die Normung

Folgen Sie uns
© 2025 DKE – VDE Verband der Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik e.V.