EN 60749-40:2011-09

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Halbleiterbauelemente -

Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 40: Prüfverfahren zum Fall einer Leiterplatte unter Verwendung von Dehnungsmessstreifen

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Enthält:

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13.07.2011 Aktuell
IEC 60749-40:2011-07
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 40: Prüfverfahren zum Fall einer Leiterplatte unter Verwendung von Dehnungsmessstreifen - Teil 40: Prüfverfahren zum Fall einer Leiterplatte unter Verwendung von Dehnungsmessstreifen

Entwurf war:

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22.04.2011 Historisch
FprEN 60749-40:2011-04
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren -- Teil 40: Prüfverfahren zum Fall einer Leiterplatte unter Verwendung von Dehnungsmessstreifen

Dieses Dokument entspricht:

EuropäischInternational

EN 60749-40:2011-09

IEC 60749-40:2011-07
Dokumentart
Europäische Norm
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
02.09.2011
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
DKE/K 631
Kontakt
Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

9_z6v.3r4uztQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-573

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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