FprEN 62047-10:2011-05

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Halbleiterbauelemente -

Bauelemente der Mikrosystemtechnik Teil 10: Druckprüfverfahren an zylinderförmigen Mikroproben für Werkstoffe der Mikrosystemtechnik

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06.05.2011 Historisch
47F/85/FDIS:2011-05
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 10: Druckprüfverfahren an zylinderförmigen Mikroproben für Werkstoffe der Mikrosystemtechnik

Entwurf war:

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06.08.2010 Historisch
FprEN 62047-10:2010-08
Halbleiterbauelemente – Bauelemente der Mikrosystemtechnik – Teil 10: Druckprüfverfahren an zylinderförmigen Mikroproben für Werkstoffe der Mikrosystemtechnik

Dieses Dokument entspricht:

EuropäischInternational

FprEN 62047-10:2011-05

47F/85/FDIS:2011-05
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Dokumentart
Schlussentwurf Europäische Norm
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
06.05.2011
Zuständiges Gremium
DKE/K 631
Kontakt
Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

9_z6v.3r4uztQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-573

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

Themen

Elektronik-Bauelemente
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