FprEN 62047-8:2010-12
Halbleiterbauelemente -
Bauelemente der Mikrosystemtechnik Teil 8: Streifen-Biege-Prüfverfahren zur Messung von Zugbeanspruchungsmerkmalen dünner Schichten
Halbleiterbauelemente -
Bauelemente der Mikrosystemtechnik Teil 8: Streifen-Biege-Prüfverfahren zur Messung von Zugbeanspruchungsmerkmalen dünner Schichten
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