EN 60793-1-32:2010-10

Nahaufnahme von optischen Fasern
Pter Mcs / Fotolia

Teil 1-32: Messmethoden und Prüfverfahren - Absetzbarkeit der Beschichtung

Beziehungen

Ersatz für:

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23.12.2003 Historisch
EN 60793-1-32:2003-12
Lichtwelleneiter - Teil 1-32: Messmethoden und Prüfverfahren - Absetzbarkeit der Beschichtung

Enthält:

Nahaufnahme von optischen Fasern
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12.05.2010 Historisch
IEC 60793-1-32:2010-05
Lichtwellenleiter - Teil 1-32: Messmethoden und Prüfverfahren - Absetzbarkeit der Beschichtung

Entwurf war:

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22.05.2009 Historisch
FprEN 60793-1-32:2009-05
Lichtwellenleiter - Teil 1-32: Messmethoden und Prüfverfahren - Absetzbarkeit der Beschichtung

Ersetzt bzw. ergänzt:

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21.12.2018 Aktuell
EN IEC 60793-1-32:2018-12
Lichtwellenleiter - Teil 1-32: Messmethoden und Prüfverfahren - Absetzbarkeit der Beschichtung

Dieses Dokument entspricht:

Dokumentart
Europäische Norm
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
01.10.2010
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium

Kontakt

Referat
Thomas Sentko
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

_y53r9.9v4_15QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-209

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

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