FprEN 62374-1:2010-06

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18.06.2010 Historisch
47/2063/FDIS:2010-06
Halbleiterbauelemente - Teil 1: Prüfung auf zeitabhängigen dielektrischen Durchbruch (TDDB) bei Isolationsschichten zwischen metallischen Leiterbahnen

Entwurf war:

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17.10.2008 Historisch
FprEN 62374-1:2008-10
Prüfung auf zeitabhängigen dielektrischen Durchbruch (TDDB) bei intermetallischen Schichten

Dieses Dokument entspricht:

EuropäischInternational

FprEN 62374-1:2010-06

47/2063/FDIS:2010-06
??????
Dokumentart
Schlussentwurf Europäische Norm
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
18.06.2010
Zuständiges Gremium
DKE/K 631
Kontakt
Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

9_z6v.3r4uztQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-573

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

Themen

Elektronik-Bauelemente
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