prEN 60749-38:2007-10

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26.10.2007 Historisch
47/1943/FDIS:2007-10
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 38: Soft-Error-Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente mit Speicher

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11.08.2006 Historisch
prEN 60749-38:2006-08
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 38: Soft-Error- Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente mit Speicher

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EuropäischInternational

prEN 60749-38:2007-10

47/1943/FDIS:2007-10
??????
Dokumentart
Entwurf Europäische Norm
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
26.10.2007
Bereitstellungsdatum
29.10.2007
Einspruchsfrist
Bitte anfragen
Zuständiges Gremium
DKE/K 631
Kontakt
Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

9_z6v.3r4uztQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-573

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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Elektronik-Bauelemente
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