prEN 62047-3:2006-05

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19.05.2006 Historisch
47/1866/FDIS:2006-05
Halbleiterbauelemente - Bauteile der Mikrosystemtechnik - Teil 3: Dünnschicht-Standardmikroprobe für die Prüfung der Zugbeanspruchung

Entwurf war:

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18.03.2005 Historisch
prEN 62047-3:2005-03

Dieses Dokument entspricht:

EuropäischInternational

prEN 62047-3:2006-05

47/1866/FDIS:2006-05
??????
Dokumentart
Entwurf Europäische Norm
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
19.05.2006
Bereitstellungsdatum
24.05.2006
Einspruchsfrist
Bitte anfragen
Zuständiges Gremium
DKE/K 631
Kontakt
Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

9_z6v.3r4uztQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-573

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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