prEN 60749-21:2003-12

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05.12.2003 Historisch
47/1741/FDIS:2003-12
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 21: Lötbarkeit

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08.11.2002 Historisch
prEN 60749-21:2002-11
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 21: Lötbarkeit

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EuropäischInternational

prEN 60749-21:2003-12

47/1741/FDIS:2003-12
??????
Dokumentart
Entwurf Europäische Norm
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
05.12.2003
Bereitstellungsdatum
11.12.2003
Einspruchsfrist
Bitte anfragen
Zuständiges Gremium
DKE/K 631
Kontakt
Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

9_z6v.3r4uztQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-573

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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Elektronik-Bauelemente
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