prEN 60749-23:2003-11

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14.11.2003 Historisch
47/1735/FDIS:2003-11
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur

Entwurf war:

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13.12.2002 Historisch
prEN 60749-23:2002-12

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EuropäischInternational

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47/1735/FDIS:2003-11
??????
Dokumentart
Entwurf Europäische Norm
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
14.11.2003
Bereitstellungsdatum
18.11.2003
Einspruchsfrist
Bitte anfragen
Zuständiges Gremium
DKE/K 631
Kontakt
Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

9_z6v.3r4uztQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-573

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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Elektronik-Bauelemente
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