EN 62007-2:2000-07

Standards
putilov_denis / Fotolia

Teil 2: Meßverfahren

Beziehungen

Enthält:

Standards
putilov_denis / Fotolia
01.09.1997 Aktuell
IEC 62007-2:1997-09
Standards
putilov_denis / Fotolia
01.08.1998 Historisch
IEC 62007-2:1997/AMD1:1998-08
Optoelektronische Halbleiterbauelemente für faseroptische Systemanwendungen - Teil 2: Meßverfahren (Änderung 1)

Entwurf war:

Standards
putilov_denis / Fotolia
01.01.1999 Historisch
prEN 62007-2:1999-01
Optoelektrische Halbleiterbauelemente für faseroptische Systemanwendungen - Teil 2: Meßverfahren

Ersetzt bzw. ergänzt:

Standards
putilov_denis / Fotolia
13.03.2009 Aktuell
EN 62007-2:2009-03
Optoelektronische Halbleiterbauelemente für Anwendungen in Lichtwellenleitersystemen - Teil 2: Messverfahren

Dieses Dokument entspricht:

EuropäischInternational

EN 62007-2:2000-07

IEC 62007-2:1997-09

IEC 62007-2:1997/AMD1:1998-08
Dokumentart
Europäische Norm
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
04.07.2000
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
DKE/K 412
Kontakt
Referat
Thomas Sentko
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

_y53r9.9v4_15QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-209

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

Themen

Informations- und Kommunikationstechnik IKT
IT-Netze
Haus + Garten
DKE Newsletter-Seitenbild
sdx15 / stock.adobe.com

Mit unserem DKE Newsletter sind Sie immer top informiert! Monatlich ...

  • fassen wir die wichtigsten Entwicklungen in der Normung kurz zusammen
  • berichten wir über aktuelle Arbeitsergebnisse, Publikationen und Entwürfe
  • informieren wir Sie bereits frühzeitig über zukünftige Veranstaltungen
Ich möchte den DKE Newsletter erhalten!

Werden Sie aktiv!

Ergebnisse rund um die Normung

Folgen Sie uns
© 2024 DKE – VDE Verband der Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik e.V.