IEC 62562:2010-02

Futuristische Illustration von 5G
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22.01.2008 Historisch
IEC PAS 62562:2008-01
Hohlraumresonanzverfahren zum Messen der komplexen Permittivität von verlustarmen dielektrischen Platten

Entwurf war:

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26.06.2009 Historisch
46F/143/RVC:2009-06

Dieses Dokument entspricht:

International

IEC 62562:2010-02

Dokumentart
Publikation
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
18.02.2010
Sprache
Englisch
Zuständiges Gremium
Kontakt
Referat
Thomas Sentko
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

_y53r9.9v4_15QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-209

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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