IEC 60749-38:2008-02
Halbleiterbauelemente -
Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 38: Soft-Error-Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente mit Speicher Teil 38: Soft-Error-Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente mit Speicher
Halbleiterbauelemente -
Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 38: Soft-Error-Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente mit Speicher Teil 38: Soft-Error-Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente mit Speicher
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