IEC 60749-27:2003-10

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Halbleiterbauelemente -

Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Machine Model (MM) Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Machine Model (MM)

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15.08.2003 Historisch

47/1718/RVD:2003-08

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18.07.2006 Aktuell

IEC 60749-27:2006-07

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Machine Model (MM)