47/1735/FDIS:2003-11

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Halbleiterbauelemente -

Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur

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Entwurf war:

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15.08.2003 Historisch
47/1716/RVC:2003-08

Dieses Dokument entspricht:

International

47/1735/FDIS:2003-11
Dokumentart
Schlussentwurf zur Abstimmung
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
14.11.2003
Sprache
Englisch
Zuständiges Gremium
DKE/K 631
Kontakt
Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

9_z6v.3r4uztQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-573

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

Themen

Elektronik-Bauelemente
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