IEC 60749-4:2002-04

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Halbleiterbauelemente -

Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 4: Feuchte Wärme, konstant, Prüfung mit hochbeschleunigter Wirkung (HAST) Teil 4: Feuchte Wärme, konstant, Prüfung mit hochbeschleunigter Wirkung (HAST)

Beziehungen

Ersatz für:

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01.10.1996 Historisch

IEC 60749:1996-10

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01.07.2000 Historisch

IEC 60749:1996/AMD1:2000-07

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren (Änderung 1)

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30.10.2001 Historisch

IEC 60749:1996/AMD2:2001-10

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren; Änderung 2

Entwurf war:

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18.01.2002 Historisch

47/1602/FDIS:2002-01

Ersetzt bzw. ergänzt:

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12.08.2003 Historisch

IEC 60749-4:2002/COR1:2003-08

Corrigendum 1: Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 4: Feuchte Wärme, konstant, Prüfung mit hochbeschleunigter Wirkung (HAST)

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03.03.2017 Aktuell