IEC 61193-1:2001-12

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Teil 1: Protokollierung und Analyse von Fehlern auf bestückten Leiterplatten Teil 1: Protokollierung und Analyse von Fehlern auf bestückten Leiterplatten

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Entwurf war:

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31.08.2001 Historisch 3 0
91/265/FDIS:2001-08

Dieses Dokument entspricht:

International

IEC 61193-1:2001-12

Dokumentart
Publikation
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
01.12.2001
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium

Ansprechpartner

Referat
Dipl.-Ing. (FH) Betriebswirt VWA Dieter Hinterwäller
Stresemannallee
60596 Frankfurt am Main

uzv_v8.yz4_v8Brv22v8QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-280

Referatsassistenz
Silvia Muszter
Stresemannallee
60596 Frankfurt am Main

9z2Azr.3@9E_v8QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-232

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