IEC 61709:1996-10

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01.05.1986 Historisch
IEC 60863:1986-05

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29.03.1996 Historisch
56/494/FDIS:1996-03
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01.05.1986 Historisch
IEC 60863:1986-05

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24.06.2011 Historisch
IEC 61709:2011-06
Bauelemente der Elektronik - Zuverlässigkeit - Referenzbedingungen für Ausfallraten und Beanspruchungsmodelle zur Umrechnung

Dieses Dokument entspricht:

International

IEC 61709:1996-10

Dokumentart
Publikation
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
01.10.1996
Sprache
Englisch
Zuständiges Gremium
Kontakt
Referat
Rudolf Brandner
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

8@u52w.s8r4u4v8QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-390

Referatsassistenz
Birgit Hofmann
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sz8xz_.y5w3r44QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-337

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