Dieser Teil von IEC 61300 befasst sich mit der Feststellung und Klassifizierung von Verschmutzungen, Kratzern und Defekten. Die Grundlage für die Prüfanforderungen ist IEC TR 62627-05. Hinweise zur Reinigung von Fasern/Ferrule von Verunreinigungen sind in IEC TR 62627-01 und eine Empfehlung in Anhang D enthalten. IEC TR 62572-4 enthält die Reinigungsverfahren für einen Faser-Stub für LWL-Sende-Empfangsgeräte. Die visuelle Inspektion erfolgt zusätzlich zur Messung von Leistungsparametern wie Dämpfung und Rückflussdämpfung oder Endflächenparametern, ersetzt diese aber nicht. Die festgelegten Maße wurden so ausgewählt, dass sie leicht geschätzt werden können. Dabei werden nicht nur die Zonen A und B auf der Faser auf Defekte und Kratzer untersucht, sondern der gesamte Kontaktbereich (wo die beiden Fasern/Ferrulen beim Zusammenstecken aufeinandertreffen) muss auf Verunreinigungen untersucht werden (bei zylindrischen Ferrulen bis zu einem Durchmesser von 250 µm und bei rechteckigen Ferrulen die gesamte Ferrulenoberfläche).
Die Ziele dieses Dokuments sind:
- die Festlegung der Mindestkriterien, die ein Mikroskop zu erfüllen hat, um diesem Dokument zu entsprechen;
- die Festlegung des Verfahrens und der Kriterien für die Prüfung von Lichtwellenleiter-Endflächen auf Sauberkeit, um die Gebrauchstauglichkeit der Endflächen zu bestimmen. Alle LWL-Steckverbinder-Steckgesichter in den Normenreihen (IEC 61755 und IEC 63267 beruhen auf dem physikalischen Kontakt der Faserkerne;
- die Angabe quantitativer Kriterien für die Analyse der Endflächenbilder.
Die Norm beschreibt den Prüfaufbau, die Vorbehandlung, die Prüfbedingungen, die Überwachung, die Erholungszeit, die Abschlussmessung, die Prüfschärfe und die Unsicherheiten der Messung sowie die Einzelheiten zum Prüfbericht.
Es gibt keine Einschränkungen im Anwendungsbereich des Dokuments.
Gegenüber DIN EN 61300-3-35:2016-04 wurden folgende Änderungen vorgenommen:
a) Hinzufügen einer Erklärung, dass die visuelle Inspektion kein Ersatz ist für die optische Qualifikation, wie die Messung der Dämpfung oder Rückflussdämpfung;
b) Hinzufügen einiger Begriffe;
c) Hinzufügen von Anforderungen an SM-35dB-Steckverbinder;
d) Hinzufügen eines Satzes in Abschnitt 5 über die Anfälligkeit der Verfahren für Systemschwankungen und Schwankungen innerhalb von Systemen desselben Anbieters;
e) Streichung der Prüfanforderungen für die Zonen C und D;
f) Einführung einer allgemeinen Anforderung an die Sauberkeit der gesamten rechteckigen Ferrule sowie die 250 μm-Fläche um jeden Lichtwellenleiter;
g) Hinzufügen einer Reinigungsempfehlung für rechteckige und zylindrische Ferrulen;
h) Außenkante der Inspektionszone B wurde von 115 μm auf 110 μm geändert, um Herstellungstoleranzen der Halterung für Mikroskope zu erfüllen;
i) Änderung, dass Fehler, die teilweise im Kern liegen, nur für den Teil zu beurteilen sind, den sie im Kern haben. Der Rest des Fehlers wird als im Mantel befindlich betrachtet;
j) Hinzufügen einer Erklärung, dass ein Steckverbinder nicht allein aufgrund einer nicht bestandenen Sichtprüfung abgelehnt werden kann. Die Verwendung dieses Steckverbinders hängt von der Einhaltung der festgelegten optischen Leistung ab.
Die Norm erhöht durch ihre Anwendung die Investitionssicherheit für Hersteller und Anwender und gibt Prüflaboren und Herstellern definierte Angaben zur Prüfung und sichert Kompatibilität über Herstellergrenzen hinweg.
