DIN EN IEC 61788-17 (VDE 0390-17):2023-06

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Supraleitfähigkeit -

Teil 17: Messungen der elektronischen Charakteristik - Lokale kritische Stromdichte und deren Verteilung in großflächigen supraleitenden Schichten (IEC 61788-17:2021); Deutsche Fassung EN IEC 61788-17:2021 Teil 17: Messungen der elektronischen Charakteristik – Lokale kritische Stromdichte und deren Verteilung in großflächigen supraleitenden Schichten

Kurzdarstellung

Mehr als dreißig Jahre nach ihrer Entdeckung im Jahr 1986 finden die Hochtemperatur-Supraleiter (HTS) jetzt ihren Weg in Produkte und Technologien, die die Übertragung von Informationen und den Transport von Energie revolutionieren werden. Unter diesen Produkten sind die hochtemperatur-supraleitenden HTS-Mikrowellenfilter zu nennen, die den extrem niedrigen Oberflächenwiderstand von Supraleitern nutzen und bereits kommerzialisiert wurden. Sie haben zwei wesentliche Vorteile gegenüber konventionellen, nicht-supraleitenden Filtern: zum Ersten eine niedrige Einfügedämpfung (rauscharme Charakteristiken) und zum Zweiten Hochfrequenz-Selektivität (hohe Flankensteilheit). Diese Vorteile ermöglichen eine reduzierte Anzahl von Basisstationen, verbesserte Sprachqualität, effizientere Nutzung der Breite von Frequenzbändern und vermindern das unerwünschte Hochfrequenz-Rauschen. Dieser Teil der Reihe IEC 61788 beschreibt die Messung der lokalen kritischen Stromdichte und ihre Verteilung in großflächigen Hochtemperatur-Supraleiterschichten (HTS-Schichten) durch ein induktives Verfahren unter Verwendung der dritten harmonischen Spannungen. Behandelt werden die Messausrüstung, anwendbare und alternative Messverfahren, die Bestimmung der Messunsicherheit und Anforderungen bezüglich des Prüfberichts. Gegenüber DIN EN 61788-17 (VDE 0390-17):2013-11 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Beschreibung von Bild 3 im Text wurde aktualisiert und erweitert; b) Beschreibung des Verfahrens zur Berechnung des theoretischen Spulen-Koeffizienten k wurde präzisiert und erweitert; c) neues Bild zur Illustration der Probenspule und ihrer Magnetfelderzeugung wurde hinzugefügt; d) Tabelle zu Spezifikationen und theoretischen Spulen-Koeffizienten k von typischen Probespulen wurde hinzugefügt; e) Beispiel für die normierten dritten harmonischen Spannungen (U3/fI0), gemessen bei verschiedenen Frequenzen, wurde hinzugefügt; f) deutsche Fassung wurde in Abschnitt 3 an die aktuellen Standardtexte angepasst.

Änderungsvermerk

Gegenüber DIN EN 61788-17 (VDE 0390-17):2013-11 wurden folgende Änderungen vorgenommen:
a) Beschreibung von Bild 3 im Text wurde aktualisiert und erweitert;
b) Beschreibung des Verfahrens zur Berechnung des theoretischen Spulenkoeffizienten k wurde präzisiert und erweitert;
c) neues Bild zur Illustration der Probenspule und ihrer Magnetfelderzeugung wurde hinzugefügt;
d) Tabelle zu Spezifikationen und theoretischen Spulenkoeffizienten k von typischen Probenspulen wurde hinzugefügt;
e) Beispiel für die normierten dritten harmonischen Spannungen (U3/fI0), gemessen bei verschiedenen Frequenzen, wurde hinzugefügt;
f) deutsche Fassung wurde in Abschnitt 3 an die aktuellen Standardtexte angepasst.

Beziehungen

Ersatz für:

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01.11.2013 Historisch
DIN EN 61788-17 (VDE 0390-17):2013-11
Supraleitfähigkeit - Teil 17: Messungen der elektronischen Charakteristik - Lokale kritische Stromdichte und deren Verteilung in großflächigen supraleitenden Schichten (IEC 61788-17:2013); Deutsche Fassung EN 61788-17:2013

Enthält:

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11.06.2021 Aktuell
EN IEC 61788-17:2021-06
Supraleitfähigkeit - Teil 17: Messungen der elektronischen Charakteristik - Lokale kritische Stromdichte und deren Verteilung in großflächigen supraleitenden Schichten
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28.04.2021 Aktuell
IEC 61788-17:2021-04
Supraleitfähigkeit - Teil 17: Messungen der elektronischen Charakteristik - Lokale kritische Stromdichte und deren Verteilung in großflächigen supraleitenden Schichten

Entwurf war:

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01.10.2019 Historisch
E DIN EN IEC 61788-17 (VDE 0390-17):2019-10
Supraleitfähigkeit - Teil 17: Messungen der elektronischen Charakteristik - Lokale kritische Stromdichte und deren Verteilung in großflächigen supraleitenden Schichten (IEC 90/433/CD:2019); Text Deutsch und Englisch

Dieses Dokument entspricht:

Dokumentart
Norm
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
01.06.2023
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
Kontakt
Referat
Dr. Tim Brückmann
Merianstr. 28
63069 Offenbach

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Referatsassistenz
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Merianstr. 28
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