E DIN EN IEC 62150-6:2023-02

Aktive Lichtwellenleiter-

Bauteile und -Bauelemente - Prüf- und Messverfahren - Teil 6: Universelle Mezzanine Platinen zur Prüfung und Messung von photonischen Baugruppen (IEC 86C/1721/CDV:2021); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 62150-6:2021 Prüf- und Messverfahren – Teil 6: Universelle Mezzanine Platinen zur Prüfung und Messung von photonischen Baugruppen

Dieser Teil von IEC 62150 legt das allgemeine Mezzanine-Leiterplatten-System zur Unterstützung von Prüfung und Messung von Einrichtungen fest, die auf mikro-optischen und mikro-photonischen Technologien beruhen, einschließlich Einrichtungen mit integrierter Optik (PIC).
Die Norm beschreibt die mechanischen Anforderungen an das Produkt und die kritischen Maße.
Es gibt keine Einschränkungen im Anwendungsbereich des Dokuments.
Die Norm erhöht durch ihre Anwendung die Investitionssicherheit für Hersteller und Anwender und gibt Prüflaboren und Herstellern definierte Angaben zur Prüfung und sichert Kompatibilität über Herstellergrenzen hinweg. Darüber hinaus listet sie im Anhang die zur Zeit aktiven Projekte zur Entwicklung der internationalen Zusammenarbeit in Forschung und Entwicklung.