IEC 61788-7:2020-03
Peter Hansen / stock.adobe.com
Teil 7: Messungen der elektronischen Charakteristik – Oberflächenwiderstand von Hochtemperatur-Supraleitern bei Frequenzen im Mikrowellenbereich
Teil 7: Messungen der elektronischen Charakteristik – Oberflächenwiderstand von Hochtemperatur-Supraleitern bei Frequenzen im Mikrowellenbereich
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