E DIN EN IEC 61300-3-35:2019-07

Nahaufnahme von optischen Fasern
Pter Mcs / Fotolia

Lichtwellenleiter -

Verbindungselemente und passive Bauteile - Grundlegende Prüf- und Messverfahren - Teil 3-35: Untersuchungen und Messungen - Visuelle Inspektion von Lichtwellenleiter-Steckverbindern und Faser-Stub-Transceivern (IEC 86B/4161/CD:2018); Text Deutsch und Englisch

Kurzdarstellung

Dieser Teil von IEC 61300 beschreibt das Prüfverfahren der polierten Endfläche eines Lichtwellenleiter-Steckverbinders oder eines LWL-Sende- und Empfangsmoduls, das ein Faserstummel-Steckgesicht verwendet. Es enthält Prüfmethoden für Verschmutzungen zur Sicherstellung der Gebrauchstauglichkeit und Methoden zur quantitativen Bewertung der Endflächenqualität. Untergrundsprünge und Brüche werden in dieser Norm nicht behandelt. Die in dieser Norm beschriebenen Methoden gelten für ummantelte Fasern von 125 µm in einer Ferrule oder in einem ferrulenlosen Steckverbinder, die für Quellen mit ≤ 2 W Eingangsleistung vorgesehen sind.
Es ist nicht das Ziel dieser Norm, dass die Größe von Kratzern und Defekten gemessen werden sollte. Die Maße und Anforderungen wurden so ausgewählt, dass sie leicht geschätzt werden können.
Die Methoden und Anforderungen gelten gleichermaßen für den Einsatz unter Feld- und Werksbedingungen.
Die festgelegten Anforderungen bilden eine in der Industrie vereinbarte Qualität für neu ausgelieferte Steckverbinder.
Die Grundlage für die Prüfanforderungen ist IEC/TR 62627-05.
Die visuelle Inspektion der Endflächen nach der vorliegenden Spezifikation ersetzt nicht die Notwendigkeit und hat auch keinen Vorrang vor der Messung der Leistungsparameter Dämpfung und Rückflussdämpfung.
Zuständig ist das DKE/UK 412.7 "LWL-Verbindungstechnik und passive optische Komponenten" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE.

Änderungsvermerk

Gegenüber DIN EN 61300-3-35:2016-04 wurden folgende Änderungen vorgenommen:
a) Ergänzung einer Anweisung, dass die visuelle Inspektion kein Ersatz ist für die optische Qualifikation, wie die Messung der Dämpfung oder Rückflussdämpfung;
b) Ergänzung einiger Begriffe;
c) Ergänzung von Anforderungen an SM-35 dB-Steckverbinder;
d) normative Verweisung auf die Normenreihe IEC 61755 für Prüfanforderungen an SM-Steckverbinder und für MM-Steckverbinder nach der Normenreihe IEC 6175X für das Steckgesicht (der Bauart) MM; der informative Anhang A enthält Prüfanforderungen aus der Normenreihe IEC 61755;
e) Ergänzung eines Satzes in 4.1 hinsichtlich der Empfindlichkeit der Methoden für Systemveränderlichkeiten und der Veränderlichkeit in Systemen von demselben Lieferanten;
f) Ergänzung einer Anweisung, dass die festgelegten Prüfanforderungen ein vereinbartes Qualitätsniveau der Industrie für vor kurzem ausgelieferte Steckverbinder sind;
g) Streichung der Prüfanforderungen für die Zonen C und D;
h) Einführung einer allgemeinen Sauberkeitsanforderung für die vollständige rechteckige Ferrule und die 250-µm-Fläche um jeden Lichtwellenleiter;
i) die Deutsche Fassung wurde im Abschnitt 2 an den aktuellen Standardtext angepasst.

Dieses Dokument entspricht:

Dokumentart
Entwurf
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
01.07.2019
Bereitstellungsdatum
07.2019
Einspruchsfrist
07.08.2019
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium

Kontakt

Referat
Thomas Sentko
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

_y53r9.9v4_15QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-209

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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