DIN EN 62496-2:2018-10

Nahaufnahme von optischen Fasern
Pter Mcs / Fotolia

Optische Leiterplatten -

Grundlegende Prüf- und Messverfahren - Teil 2: Allgemeiner Leitfaden zur Festlegung der Bedingungen für die Messung der optischen Eigenschaften von optischen Leiterplatten (IEC 62496-2:2017); Deutsche Fassung EN 62496-2:2017

Kurzdarstellung

Dieser Teil der IEC 62496 legt ein Verfahren zur Festlegung der Bedingungen für die Messung der optischen Eigenschaften von optischen Leiterplatten fest. Das Verfahren verwendet Kennzahlen in Nachschlagetabellen, auf die sich für die verschiedenen entscheidenden Aspekte der Messumgebung bezogen werden kann. Die Werte aus den Tabellen werden verwendet, um einen Mess-Identifizierungscode zu erstellen, der ausreichend Informationen über die Messbedingungen erfasst, um in einem vertretbaren Rahmen von unabhängig voneinander durchgeführten Messungen einheitliche Ergebnisse zu gewährleisten. Die Festlegung empfohlener Messbedingungen soll zusätzliche Abweichungen der unabhängig voneinander gemessenen Ergebnisse auf ein Minimum reduzieren. Die Norm gibt Herstellern und Prüflabors Sicherheit in der Definition der Prüfung und dient als Referenz in der Qualitätssicherung.
Zuständig ist das DKE/UK 412.2 "Komponenten für Kommunikationskabelanlagen" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE.

Beziehungen

Enthält:

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22.09.2017 Aktuell
EN 62496-2:2017-09
Optische Leiterplatten - Grundlegende Prüf- und Messverfahren - Teil 2: Allgemeiner Leitfaden zur Festlegung der Bedingungen für die Messung der optischen Eigenschaften von optischen Leiterplatten

Dieses Dokument entspricht:

Dokumentart
Norm
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
01.10.2018
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium

Kontakt

Referat
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Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

_y53r9.9v4_15QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-209

Referatsassistenz
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