DIN EN 61745:2018-06

Nahaufnahme von optischen Fasern
Pter Mcs / Fotolia

Endflächen-

Bildanalyseverfahren für die Kalibrierung von Prüfeinrichtungen für die Geometrie von Lichtwellenleitern (IEC 61745:2017); Deutsche Fassung EN 61745:2017

Kurzdarstellung

Diese Internationale Norm beschreibt die Kalibrierung von Prüfeinrichtungen für die Durchführung einer Endflächen-Bildanalyse, die auch als Nahfeld- oder Grautonanalyse bezeichnet wird. Die Grundsätze dürfen jedoch für verschiedene Typen von Prüfeinrichtungen angewendet werden.
Die beschriebenen Verfahren sind von Kalibrierlaboren und von den Herstellern und Anwendern von Geometrieprüfeinrichtungen durchzuführen und dienen der Kalibrierung von Geometrieprüfeinrichtungen und der Bewertung der Messunsicherheiten der kalibrierten Prüfeinrichtungen. Die Kalibrierung von Messeinrichtungen für die Faserbeschichtung oder für Kabel gehört nicht zum Anwendungsbereich dieser Norm.
Zuständig ist das DKE/UK 412.2 "Komponenten für Kommunikationskabelanlagen" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE.

Beziehungen

Enthält:

Nahaufnahme von optischen Fasern
Pter Mcs / Fotolia
20.10.2017 Aktuell
EN 61745:2017-10
Endflächen-Bildanalyseverfahren für die Kalibrierung von Prüfeinrichtungen für die Geometrie von Lichtwellenleitern

Dieses Dokument entspricht:

Dokumentart
Norm
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
01.06.2018
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium

Kontakt

Referat
Thomas Sentko
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

_y53r9.9v4_15QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-209

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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