CISPR 16-2-3:2016-09

VDE

Teil 2-3: Verfahren zur Messung der hochfrequenten Störaussendung (Funkstörungen) und Störfestigkeit – Messung der gestrahlten Störaussendung

Beziehungen

Ersatz für:

VDE

27.04.2010 Historisch

CISPR 16-2-3:2010-04

Anforderungen an Geräte und Einrichtungen sowie Festlegung der Verfahren zur Messung der hochfrequenten Störaussendung (Funkstörungen) und Störfestigkeit - Teil 2-3: Verfahren zur Messung der hochfrequenten Störaussendung (Funkstörungen) und Störfestigkeit - Messung der gestrahlten Störaussendung

Entwurf war:

VDE

12.08.2016 Historisch

CIS/A/1182/RVD:2016-08

Ersetzt bzw. ergänzt:

VDE

25.06.2019 Aktuell

CISPR 16-2-3:2016/AMD1:2019-06

Änderung 1 - Anforderungen an Geräte und Einrichtungen sowie Festlegung der Verfahren zur Messung der hochfrequenten Störaussendung (Funkstörungen) und Störfestigkeit - Teil 2-3: Verfahren zur Messung der hochfrequenten Störaussendung (Funkstörungen) und Störfestigkeit – Messung der gestrahlten Störaussendung

VDE

14.06.2023 Aktuell

CISPR 16-2-3:2016/AMD2:2023-06

Änderung 2 - Anforderungen an Geräte und Einrichtungen sowie Festlegung der Verfahren zur Messung der hochfrequenten Störaussendung (Funkstörungen) und Störfestigkeit - Teil 2-3: Verfahren zur Messung der hochfrequenten Störaussendung (Funkstörungen) und Störfestigkeit – Messung der gestrahlten Störaussendung