86/449/FDIS:2013-03
Grundlegende Prüf- und Messverfahren Teil 2-4: Optische Übertragungsprüfung für optische Leiterplatten ohne Eingangs-/Ausgangsfasern
Grundlegende Prüf- und Messverfahren Teil 2-4: Optische Übertragungsprüfung für optische Leiterplatten ohne Eingangs-/Ausgangsfasern
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