EN 61788-15:2011-12

Standards
putilov_denis / Fotolia

Teil 15: Messungen der elektronischen Charakteristik - Oberflächenimpedanz von Supraleiterschichten bei Mikrowellenfrequenzen

Beziehungen

Enthält:

Standards
putilov_denis / Fotolia
24.10.2011 Aktuell
IEC 61788-15:2011-10
Supraleitfähigkeit - Teil 15: Messungen der elektronischen Charakteristik - Oberflächenimpedanz von Supraleiterschichten bei Mikrowellenfrequenzen

Entwurf war:

Standards
putilov_denis / Fotolia
08.07.2011 Historisch
FprEN 61788-15:2011-07
Supraleitfähigkeit - - Teil 15: Messung der elektronischen Eigenschaften - Oberflächenimpedanz von Supraleiterfilmen bei Mikrowellenfrequenzen

Dieses Dokument entspricht:

EuropäischInternational

EN 61788-15:2011-12

IEC 61788-15:2011-10
Dokumentart
Europäische Norm
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
16.12.2011
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
DKE/K 184
Kontakt
Referat
Dr. Tim Brückmann
Merianstr. 28
63069 Offenbach

_z3.s8@vt13r44QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-364

Referatsassistenz
Marina El Sleiman
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

3r8z4r.v292vz3r4QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-327

Themen

Werkstoffe
DKE Newsletter-Seitenbild
sdx15 / stock.adobe.com

Mit unserem DKE Newsletter sind Sie immer top informiert! Monatlich ...

  • fassen wir die wichtigsten Entwicklungen in der Normung kurz zusammen
  • berichten wir über aktuelle Arbeitsergebnisse, Publikationen und Entwürfe
  • informieren wir Sie bereits frühzeitig über zukünftige Veranstaltungen
Ich möchte den DKE Newsletter erhalten!

Werden Sie aktiv!

Ergebnisse rund um die Normung

Folgen Sie uns
© 2024 DKE – VDE Verband der Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik e.V.