EN 61788-15:2011-12

Studentin im Chemielabor
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Teil 15: Messungen der elektronischen Charakteristik - Oberflächenimpedanz von Supraleiterschichten bei Mikrowellenfrequenzen

Beziehungen

Enthält:

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24.10.2011 Aktuell
IEC 61788-15:2011-10
Supraleitfähigkeit - Teil 15: Messungen der elektronischen Charakteristik - Oberflächenimpedanz von Supraleiterschichten bei Mikrowellenfrequenzen

Entwurf war:

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08.07.2011 Historisch
FprEN 61788-15:2011-07
Supraleitfähigkeit - - Teil 15: Messung der elektronischen Eigenschaften - Oberflächenimpedanz von Supraleiterfilmen bei Mikrowellenfrequenzen

Dieses Dokument entspricht:

EuropäischInternational

EN 61788-15:2011-12

IEC 61788-15:2011-10
Dokumentart
Europäische Norm
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
16.12.2011
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
DKE/K 184

Kontakt

Referat
Dr. Tim Brückmann
Merianstr. 28
63069 Offenbach

_z3.s8@vt13r44QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-364

Referatsassistenz
Gabriele Gulis
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

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