IEC 61788-15:2011-10

Studentin im Chemielabor
kasto / Fotolia

Teil 15: Messungen der elektronischen Charakteristik - Oberflächenimpedanz von Supraleiterschichten bei Mikrowellenfrequenzen

Beziehungen

Entwurf war:

Studentin im Chemielabor
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16.09.2011 Historisch
90/283/RVD:2011-09

Dieses Dokument entspricht:

International

IEC 61788-15:2011-10
Dokumentart
Publikation
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
24.10.2011
Sprache
Englisch
Zuständiges Gremium
DKE/K 184

Kontakt

Referat
Dr. Tim Brückmann
Merianstr. 28
63069 Offenbach

_z3.s8@vt13r44QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-364

Referatsassistenz
Gabriele Gulis
Merianstr. 28
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