E DIN EN 61788-5 (VDE 0390-5):2011-12

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Supraleitfähigkeit -

Teil 5: Messung des Verhältnisses von Matrixvolumen zu Supraleitervolumen - Verhältnis von Kupfervolumen zu Supraleitervolumen von Cu/NbTi-Verbundsupraleitern (IEC 90/272/CD:2011)

Kurzdarstellung

Dieser Teil der IEC 61788 umfasst ein Messverfahren zur Bestimmung des Verhältnisses von Kupfervolumen zu Supraleitervolumen von Cu/Nb-Ti-Verbundsupraleiterdrähten.
Dieses Messverfahren und die andere Methode aus Anhang A sind vorgesehen zur Anwendung bei Cu/Nb-Ti-Verbundsupraleiterdrähten mit einer Querschnittsfläche von 0,1 [mm2] bis 3 [mm2], einem Durchmesser des/der Nb-Ti-Filaments/Filamente von 2 [µm] bis 200 [µm] und einem Verhältnis des Kupfervolumens zum Supraleitervolumen von 0,5 oder mehr.
Die Cu/Nb-Ti-Verbundleiterprobe, die bei diesem Verfahren erörtert wird, hat eine monolithische Struktur mit rundem oder rechteckigem Querschnitt. Dieses Messverfahren wird in der Weise ausgeführt, dass das Kupfer mit Salpetersäure aufgelöst wird. Abweichungen von diesem Verfahren, die für Routineprüfungen oder nach anderen speziellen Vorschriften erlaubt sind, werden in dieser Norm angegeben.
An Cu/Nb-Ti-Supraleitern mit Querschnittsflächen, Filamentdurchmessern und einem Kupfervolumen/Supraleitervolumen-Verhältnis außerhalb der genannten Grenzen könnten mit dem vorliegenden Verfahren Messungen mit einer erwarteten reduzierten Genauigkeit durchgeführt werden. Andere, spezielle Probengeometrien, die möglicherweise besser geeignet sind für Messungen an Leitern außerhalb der genannten Grenzen, werden in dieser Norm im Hinblick auf Klarheit und Einhaltung der Messgenauigkeit weggelassen.
Von dem in dieser Norm beschriebenen Messverfahren ist zu erwarten, dass es nach einigen zweckmäßigen Modifikationen auch für andere Verbundsupraleiterdrähte angewendet werden kann.
Zuständig ist das K 184 „Supraleiter“ der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.

Änderungsvermerk

Gegenüber DIN EN 61788-5 (VDE 0390-5):2001-07 wurden folgende Änderungen vorgenommen:
a) In der Einleitung wurde die Beschreibung des Messverfahrens an die Übersetzung angepasst;
b) Überschrift Teil 5 "Messung des Verhältnisses von Matrixvolumen zu Supraleitervolumen -Verhältnis von Kupfervolumen zu Supraleitervolumen von Cu/Nb-Ti-Verbundsupraleitern" wurde eingefügt;
c) Kapitel 1 (Anwendungsbereich) wurde ergänzt (Verweis auf Anhang A) und zur Klar- und Richtigstellung der Begriff "Verbundsupraleiter" benutzt;
d) Kapitel 2 wurde zum Teil neu übersetzt und ergänzt;
e) Kapitel 4 wurde zum Teil neu übersetzt und ergänzt;
f) in Kapitel 6 wurde die Überschrift "Die folgende Apparatur muss vorbereitet werden" hinzugefügt;
g) Kapitel 7 wurde als "Messverfahren" bezeichnet und in Kapitel 7.1 wurde der Begriff "Menge" anstatt "Masse" benutzt;
h) in Kapitel 7.5 wurde "die vom Hersteller angegeben Genauigkeit..." übersetzt und hinzugefügt;
i) Anmerkung 3 in Kapitel 7.7 wurde zum Teil neu übersetzt und ergänzt;
j) Absatz 4 in Kapitel 7.8 wurde zur Klarstellung neu übersetzt;
k) in Kapitel 7.9 wurde "die vom Hersteller angegeben Genauigkeit…" übersetzt und hinzugefügt;
l) in Kapitel 9 wurde die Überschrift neu übersetzt;
m) Kapitel 9 wurde zur Klar- und Richtigstellung inklusive Überschrift überarbeitet;
n) die Anhänge A bis C wurden neu strukturiert und zur Klar- und Richtigstellung überarbeitet;
o) ab Anhang E (informativ) wurde die Norm komplett übersetzt, da in der deutschen Vorgängerversion keine Übersetzung vorlag.

Beziehungen

Enthält:

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27.05.2011 Historisch
90/272/CD:2011-05

Entwurf war:

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01.07.2001 Historisch
DIN EN 61788-5 (VDE 0390-5):2001-07
Supraleitfähigkeit - Teil 5: Messung des Verhältnisses von Matrixvolumen zu Supraleitervolumen -Verhältnis von Kupfervolumen zu Supraleitervolumen von Cu/NbTi-Verbundsupraleitern (IEC 61788-5:2000); Deutsche Fassung EN 61788-5:2001

Dieses Dokument entspricht:

Dokumentart
Entwurf
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
01.12.2011
Bereitstellungsdatum
07.2012
Einspruchsfrist
05.02.2012
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium

Kontakt

Referat
Dipl.-Ing. Stefan Emde
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

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Referatsassistenz
Gabriele Gulis
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