E DIN EN 61788-17 (VDE 0390-17):2011-08

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Teil 17: Messung der elektronischen Eigenschaften Lokale kritische Stromdichte und ihre Verteilung in großflächigen supraleitenden Schichten

Kurzdarstellung

Dieser Teil beschreibt die Messung der lokalen kritischen Stromdichte (Jc) und ihre Verteilung in großflächigen Hochtemperatursupraleiter-Schichten (HTS) durch ein induktives Verfahren unter Verwendung der dritten harmonischen Spannungen. Der Schlüssel für präzise Messungen ist, Jc bei Temperaturen des flüssigen Stickstoffs durch ein elektrisches Feld-Kriterium zu bestimmen und Strom-Spannungs-Charakteristiken ihrer Frequenzabhängigkeit zu erhalten. Obwohl es möglich ist, Jc in angelegten DC-Magnetfeldern zu messen, ist der Anwendungsbereich dieser Norm auf die Messung ohne DC-Magnetfelder beschränkt.
Zuständig ist das K 184 "Supraleiter" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.