E DIN EN 61788-17 (VDE 0390-17):2011-08

Händedruck von zwei Geschäftsleuten
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Teil 17: Messung der elektronischen Eigenschaften Lokale kritische Stromdichte und ihre Verteilung in großflächigen supraleitenden Schichten

Kurzdarstellung

Dieser Teil beschreibt die Messung der lokalen kritischen Stromdichte (Jc) und ihre Verteilung in großflächigen Hochtemperatursupraleiter-Schichten (HTS) durch ein induktives Verfahren unter Verwendung der dritten harmonischen Spannungen. Der Schlüssel für präzise Messungen ist, Jc bei Temperaturen des flüssigen Stickstoffs durch ein elektrisches Feld-Kriterium zu bestimmen und Strom-Spannungs-Charakteristiken ihrer Frequenzabhängigkeit zu erhalten. Obwohl es möglich ist, Jc in angelegten DC-Magnetfeldern zu messen, ist der Anwendungsbereich dieser Norm auf die Messung ohne DC-Magnetfelder beschränkt.
Zuständig ist das K 184 "Supraleiter" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.

Beziehungen

Enthält:

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11.02.2011 Historisch
90/260/CD:2011-02

Dieses Dokument entspricht:

Dokumentart
Entwurf
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
01.08.2011
Bereitstellungsdatum
07.2012
Einspruchsfrist
29.10.2011
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium

Kontakt

Referat
Dipl.-Ing. Stefan Emde
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

9_vwr4.v3uvQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-257

Referatsassistenz
Gabriele Gulis
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

xrs8zv2v.x@2z9QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-357

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