E DIN EN 61788-17 (VDE 0390-17):2011-08

Teil 17: Messung der elektronischen Eigenschaften Lokale kritische Stromdichte und ihre Verteilung in großflächigen supraleitenden Schichten

Dieser Teil beschreibt die Messung der lokalen kritischen Stromdichte (Jc) und ihre Verteilung in großflächigen Hochtemperatursupraleiter-Schichten (HTS) durch ein induktives Verfahren unter Verwendung der dritten harmonischen Spannungen. Der Schlüssel für präzise Messungen ist, Jc bei Temperaturen des flüssigen Stickstoffs durch ein elektrisches Feld-Kriterium zu bestimmen und Strom-Spannungs-Charakteristiken ihrer Frequenzabhängigkeit zu erhalten. Obwohl es möglich ist, Jc in angelegten DC-Magnetfeldern zu messen, ist der Anwendungsbereich dieser Norm auf die Messung ohne DC-Magnetfelder beschränkt.
Zuständig ist das K 184 "Supraleiter" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.