E DIN EN 62496-2-2:2010-09

Nahaufnahme von optischen Fasern
Pter Mcs / Fotolia

Prüf- und Messverfahren Teil 2-2: Messungen - Maße optischer Leiterplatten

Kurzdarstellung

Die vorliegende Norm legt Messverfahren für Maße fest, die sich auf die Schnittstellendaten für optische Leiterplatten (optical circiut board, OCB) nach den Festlegungen in IEC 62496 4 beziehen.
Zuständig ist das K 412 „Kommunikationskabel (Kabel, Leitungen, Wellenleiter, Lichtwellenleiter, Komponenten, Zubehör und Anlagentechnik für die Nachrichten- und Informationsübertragung)“ der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.

Beziehungen

Enthält:

Nahaufnahme von optischen Fasern
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20.11.2009 Historisch
FprEN 62496-2-2:2009-11
Optische Leiterplatten - Prüf- und Messverfahren - Teil 2-2: Messverfahren - Abmessungen optischer Leiterplatten
Nahaufnahme von optischen Fasern
Pter Mcs / Fotolia
20.11.2009 Historisch
86/358/CDV:2009-11

Dieses Dokument entspricht:

Dokumentart
Entwurf
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
01.09.2010
Bereitstellungsdatum
06.09.2010
Einspruchsfrist
30.11.2010
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
Kontakt
Referat
Thomas Sentko
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

_y53r9.9v4_15QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-209

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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