E DIN IEC 61788-15 (VDE 0390-15):2009-01
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Supraleitfähigkeit -
Teil 15: Messung der elektronischen Eigenschaften - Oberflächenimpedanz von Supraleiterfilmen bei Mikrowellenfrequenzen (IEC 90/218/CD:2008)
Kurzdarstellung
Seit der Entdeckung der Hoch-Tc-Supraleiter (HTS) sind weltweit eingehende Forschungsarbeiten bezüglich elektronischer Anwendungen unternommen und Anwendungen großen Maßstabs mit HTS-Filtersubsystemen basierend auf YBa2Cu3O7-δ (YBCO) bereits kommerzialisiert worden.
Vorzüge der Verwendung von HTS-Filmen für Mikrowellengeräte wie Resonatoren, Filter, Antennen, Verzögerungsleitungen etc. beinhalten, dass i) Mikrowellenverluste von HTS-Filmen extrem gering sein können und dass ii) wegen des extrem geringen Mikrowellenoberflächenwiderstands ( ) und der frequenzunabhängigen Eindringtiefe ( ) von HTS-Filmen keine Signaldispersion in Übertragungsleitungen, die aus HTS-Filmen bestehen, stattfindet.
Diesbezüglich ist es, wenn es um die Auslegung von auf HTS basierenden Mikrowellengeräten geht, wichtig, die Oberflächenimpedanz ( ) von HTS-Filmen zu messen.
Das in der vorliegenden Norm vorgestellte Testverfahren ermöglicht es, nicht nur den intrinsischen Oberflächenwiderstand, sondern durch die Verwendung eines einzelnen Saphirresonators auch die intrinsische Oberflächenreaktanz von HTS-Filmen ungeachtet der Filmdicke zu messen. Es kann ebenso auf HTS-beschichtete Leiter, HTS-Massivleiter und andere Supraleiter angewandt werden, für die Modelle für die Eindringtiefe etabliert worden sind.
Es ist das Ziel dieser Norm, den Ingenieuren, die auf den Feldern der Elektronik und der Supraleitertechnologie arbeiten, unter den gegenwärtigen Umständen eine geeignete und akzeptable technische Basis zur Verfügung zu stellen.
Das von dieser Norm abgedeckte Testverfahren ist auf dem VAMAS (Versailles Project on Advanced Materials and Standards) TWA-16-Treffen diskutiert worden.
Die Norm beschreibt Messungen der intrinsischen Oberflächenimpedanz ( ) von HTS-Filmen bei Mikrowellenfrequenzen mit Hilfe eines modifizierten dielektrischen Resonatorverfahrens im Doppelresonanzmodus. Gegenstand der Messung ist, die Temperaturabhängigkeit des intrinsischen bei der Resonanzfrequenz zu erhalten.
Zuständig ist das K 184 „Supraleiter“ der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.
Stefan Emde
Vorzüge der Verwendung von HTS-Filmen für Mikrowellengeräte wie Resonatoren, Filter, Antennen, Verzögerungsleitungen etc. beinhalten, dass i) Mikrowellenverluste von HTS-Filmen extrem gering sein können und dass ii) wegen des extrem geringen Mikrowellenoberflächenwiderstands ( ) und der frequenzunabhängigen Eindringtiefe ( ) von HTS-Filmen keine Signaldispersion in Übertragungsleitungen, die aus HTS-Filmen bestehen, stattfindet.
Diesbezüglich ist es, wenn es um die Auslegung von auf HTS basierenden Mikrowellengeräten geht, wichtig, die Oberflächenimpedanz ( ) von HTS-Filmen zu messen.
Das in der vorliegenden Norm vorgestellte Testverfahren ermöglicht es, nicht nur den intrinsischen Oberflächenwiderstand, sondern durch die Verwendung eines einzelnen Saphirresonators auch die intrinsische Oberflächenreaktanz von HTS-Filmen ungeachtet der Filmdicke zu messen. Es kann ebenso auf HTS-beschichtete Leiter, HTS-Massivleiter und andere Supraleiter angewandt werden, für die Modelle für die Eindringtiefe etabliert worden sind.
Es ist das Ziel dieser Norm, den Ingenieuren, die auf den Feldern der Elektronik und der Supraleitertechnologie arbeiten, unter den gegenwärtigen Umständen eine geeignete und akzeptable technische Basis zur Verfügung zu stellen.
Das von dieser Norm abgedeckte Testverfahren ist auf dem VAMAS (Versailles Project on Advanced Materials and Standards) TWA-16-Treffen diskutiert worden.
Die Norm beschreibt Messungen der intrinsischen Oberflächenimpedanz ( ) von HTS-Filmen bei Mikrowellenfrequenzen mit Hilfe eines modifizierten dielektrischen Resonatorverfahrens im Doppelresonanzmodus. Gegenstand der Messung ist, die Temperaturabhängigkeit des intrinsischen bei der Resonanzfrequenz zu erhalten.
Zuständig ist das K 184 „Supraleiter“ der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.
Stefan Emde
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