DIN EN 62496-2-2:2011-09

Nahaufnahme von optischen Fasern
Pter Mcs / Fotolia

Teil 2-2: Messungen - Abmessungen optischer Leiterplatten

Kurzdarstellung

Die vorliegende Norm legt Messverfahren für Maße fest, die sich auf die Schnittstellendaten für optische Leiterplatten (en: optical circiut board, OCB) nach den Festlegungen in IEC 62496-4 beziehen.
Die Norm gibt Herstellern und Prüflabors Sicherheit in der Definition der Prüfung und dient als Referenz in der Qualitätssicherung.
Zuständig ist das K 412 "Kommunikationskabel (Kabel, Leitungen, Wellenleiter, Lichtwellenleiter, Komponenten, Zubehör und Anlagentechnik für die Nachrichten- und Informationsübertragung)" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.

Beziehungen

Enthält:

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04.03.2011 Aktuell
EN 62496-2-2:2011-03
Optische Leiterplatten - Teil 2-2: Messungen - Abmessungen optischer Leiterplatten
Nahaufnahme von optischen Fasern
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27.01.2011 Aktuell
IEC 62496-2-2:2011-01
Optische Leiterplatten - Teil 2-2: Messverfahren - Maße optischer Leiterplatten - Teil 2-2: Messverfahren - Maße optischer Leiterplatten

Entwurf war:

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01.09.2010 Historisch
E DIN EN 62496-2-2:2010-09
Optische Leiterplatten - Prüf- und Messverfahren - Teil 2-2: Messungen - Maße optischer Leiterplatten (IEC 86/358/CDV:2009); Deutsche Fassung FprEN 62496-2-2:2009

Dieses Dokument entspricht:

Dokumentart
Norm
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
01.09.2011
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium

Kontakt

Referat
Thomas Sentko
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

_y53r9.9v4_15QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-209

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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