DIN EN 61788-10 (VDE 0390-10):2007-05

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Teil 10: Messung der kritischen Temperatur - Kritische Temperatur von Verbundsupraleitern bestimmt durch ein Widerstandsmessverfahren

Beziehungen

Ersatz für:

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01.05.2003 Historisch

DIN EN 61788-10 (VDE 0390-10):2003-05

Supraleitfähigkeit - Teil 10: Messung der kritischen Temperatur - Kritische Temperatur von NbTi-, Nb3Sn- und Bi-basierten Kupferoxid-Verbundsupraleitern mit einem Widerstandsverfahren (IEC 61788-10:2002); Deutsche Fassung EN 61788-10:2002

Enthält:

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20.10.2006 Aktuell

EN 61788-10:2006-10

Supraleitfähigkeit - Teil 10: Messung der kritischen Temperatur - Kritische Temperatur von Verbundsupraleitern bestimmt durch ein Widerstandsmessverfahren

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11.08.2006 Aktuell

IEC 61788-10:2006-08

Supraleitfähigkeit - Teil 10: Messung der kritischen Temperatur - Kritische Temperatur von Verbundsupraleitern bestimmt durch ein Widerstandsmessverfahren - Teil 10: Messung der kritischen Temperatur - Kritische Temperatur von Verbundsupraleitern bestimmt durch ein Widerstandsmessverfahren

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01.07.2005 Historisch

E DIN EN 61788-10 (VDE 0390-10):2005-07

Supraleitfähigkeit - Teil 10: Messung der kritischen Temperatur - Kritische Temperatur von Verbundsupraleitern mit einem Widerstandsverfahren (IEC 90/166/CDV:2005); Deutsche Fassung prEN 61788-10:2005