DIN EN 61788-10 (VDE 0390-10):2007-05

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Teil 10: Messung der kritischen Temperatur - Kritische Temperatur von Verbundsupraleitern bestimmt durch ein Widerstandsmessverfahren

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01.05.2003 Historisch
DIN EN 61788-10 (VDE 0390-10):2003-05
Supraleitfähigkeit - Teil 10: Messung der kritischen Temperatur - Kritische Temperatur von NbTi-, Nb3Sn- und Bi-basierten Kupferoxid-Verbundsupraleitern mit einem Widerstandsverfahren (IEC 61788-10:2002); Deutsche Fassung EN 61788-10:2002

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20.10.2006 Aktuell
EN 61788-10:2006-10
Supraleitfähigkeit - Teil 10: Messung der kritischen Temperatur - Kritische Temperatur von Verbundsupraleitern bestimmt durch ein Widerstandsmessverfahren
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11.08.2006 Aktuell
IEC 61788-10:2006-08
Supraleitfähigkeit - Teil 10: Messung der kritischen Temperatur - Kritische Temperatur von Verbundsupraleitern bestimmt durch ein Widerstandsmessverfahren - Teil 10: Messung der kritischen Temperatur - Kritische Temperatur von Verbundsupraleitern bestimmt durch ein Widerstandsmessverfahren

Entwurf war:

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01.07.2005 Historisch
E DIN EN 61788-10 (VDE 0390-10):2005-07
Supraleitfähigkeit - Teil 10: Messung der kritischen Temperatur - Kritische Temperatur von Verbundsupraleitern mit einem Widerstandsverfahren (IEC 90/166/CDV:2005); Deutsche Fassung prEN 61788-10:2005

Dieses Dokument entspricht:

Dokumentart
Norm
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
01.05.2007
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
Kontakt
Referat
Dr. Tim Brückmann
Merianstr. 28
63069 Offenbach

_z3.s8@vt13r44QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-364

Referatsassistenz
Marina El Sleiman
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

3r8z4r.v292vz3r4QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-327

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