EN 62562:2011-02

Futuristische Illustration von 5G
Sikov / Fotolia

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Enthält:

Futuristische Illustration von 5G
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18.02.2010 Aktuell
IEC 62562:2010-02
Hohlraumresonanzverfahren zum Messen der komplexen Permittivität von verlustarmen dielektrischen Platten

Entwurf war:

Futuristische Illustration von 5G
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16.01.2009 Historisch
FprEN 62562:2009-01
Hohlraumresonanzverfahren zum Messen der komplexen Permittivität von verlustarmen dielektrischen Platten

Dieses Dokument entspricht:

EuropäischInternational

EN 62562:2011-02

IEC 62562:2010-02

Dokumentart
Europäische Norm
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
18.02.2011
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
Kontakt
Referat
Thomas Sentko
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

_y53r9.9v4_15QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-209

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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