IEC PAS 62562:2008-01

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Entwurf war:

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23.11.2007 Historisch
46F/78/RVN:2007-11

Ersetzt bzw. ergänzt:

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18.02.2010 Aktuell
IEC 62562:2010-02
Hohlraumresonanzverfahren zum Messen der komplexen Permittivität von verlustarmen dielektrischen Platten

Dieses Dokument entspricht:

International

IEC PAS 62562:2008-01

Dokumentart
IEC Öffentliche Spezifikation
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
22.01.2008
Sprache
Englisch
Zuständiges Gremium
Kontakt
Referat
Dipl.-Ing. Thomas Sentko
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

_y53r9.9v4_15QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-209

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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