IEC 61788-7:2006-10

Studentin im Chemielabor
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Teil 7: Messungen der elektronischen Charakteristik – Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Frequenzen im Mikrowellenbereich

Beziehungen

Ersatz für:

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22.01.2002 Historisch
IEC 61788-7:2002-01
Supraleitfähigkeit - Teil 7: Charakteristische elektronische Messungen - Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Frequenzen im Mikrowellenbereich

Entwurf war:

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15.09.2006 Historisch
90/198/RVD:2006-09

Ersetzt bzw. ergänzt:

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20.03.2020 Aktuell
IEC 61788-7:2020-03
Supraleitfähigkeit - Teil 7: Messungen der elektronischen Charakteristik – Oberflächenwiderstand von Hochtemperatur-Supraleitern bei Frequenzen im Mikrowellenbereich

Dieses Dokument entspricht:

International

IEC 61788-7:2006-10
Dokumentart
Publikation
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
26.10.2006
Sprache
Englisch
Zuständiges Gremium
DKE/K 184

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Referat
Dipl.-Ing. Georg Vogel
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

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Referatsassistenz
Gabriele Gulis
Merianstr. 28
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