IEC 61788-7:2006-10

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Teil 7: Charakteristische elektronische Messungen - Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Frequenzen im Mikrowellenbereich Teil 7: Charakteristische elektronische Messungen - Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Frequenzen im Mikrowellenbereich

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22.01.2002 Aktuell 1 0
IEC 61788-7:2002-01
Supraleitfähigkeit - Teil 7: Charakteristische elektronische Messungen - Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Frequenzen im Mikrowellenbereich

Entwurf war:

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15.09.2006 Historisch 0 0
90/198/RVD:2006-09

Dieses Dokument entspricht:

International

IEC 61788-7:2006-10

Dokumentart
Publikation
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
26.10.2006
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium

Ansprechpartner

Referat
Dipl.-Ing. Stefan Emde
Stresemannallee
60596 Frankfurt am Main

9_vwr4.v3uvQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-257

Referatsassistenz
Gabriele Gulis
Stresemannallee
60596 Frankfurt am Main

xrs8zv2v.x@2z9QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-357

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