IEC 61788-10:2006-08

Studentin im Chemielabor
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Teil 10: Messung der kritischen Temperatur - Kritische Temperatur von Verbundsupraleitern bestimmt durch ein Widerstandsmessverfahren Teil 10: Messung der kritischen Temperatur - Kritische Temperatur von Verbundsupraleitern bestimmt durch ein Widerstandsmessverfahren

Beziehungen

Ersatz für:

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24.06.2002 Historisch
IEC 61788-10:2002-06
Supraleitfähigkeit - Teil 10: Messung der kritischen Temperatur - Kritische Temperatur von NbTi-, Nb3Sn- und Bi-basierte Kupferoxid-Verbundsupraleitern mit einem Widerstandsverfahren

Entwurf war:

Studentin im Chemielabor
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07.07.2006 Historisch
90/194/RVD:2006-07

Dieses Dokument entspricht:

International

IEC 61788-10:2006-08
Dokumentart
Publikation
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
11.08.2006
Sprache
Englisch
Zuständiges Gremium
DKE/K 184

Kontakt

Referat
Dr. Tim Brückmann
Merianstr. 28
63069 Offenbach

_z3.s8@vt13r44QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-364

Referatsassistenz
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