Dieser Teil von IEC 60793 beschreibt drei Verfahren zur Bestimmung und Messung der Modenbandbreite von Mehrmoden-Lichtwellenleitern (siehe IEC 60793-2-10, Normenreihe IEC 60793-30 und Normenreihe IEC 60793-40). Die Basisband-Frequenzantwort wird durch Bestimmung des Übertragungsfaktors der Faser mit einer sinusförmig modulierten Lichtquelle direkt im Frequenzbereich gemessen. Die Basisband-Antwort kann auch durch Beobachtung der Verbreiterung schmalbandiger Lichtimpulse gemessen werden. Die berechnete Antwort kann auch durch die Nutzung von Differenz-Moden-Verzögerungsdaten (DMD, en: Differential Mode Delay) bestimmt werden.
Die drei Verfahren sind:
Verfahren A – Messverfahren (Impulsverzerrung) im Zeitbereich
Verfahren B – Messverfahren im Frequenzbereich
Verfahren C – Modale Bandbreite bei Vollanregung, berechnet aus der Differenz-Modenlaufzeit (OMBc)
Verfahren A und B können mit einer der beiden Einkopplungsarten durchgeführt werden: Einkopplungsbedingung mit Vollanregung (OFL-Bedingung) (OFL, en: overfilled launch) oder modenbegrenzte Einkopplungsbedingung (RML-Bedingung) (RML, en: restricted mode launch). Verfahren C ist nur für A1a.2- (und A1a.3- in Vorbereitung) Mehrmoden-Fasern definiert und nutzt eine gewichtete Summierung von DMD-Anregungsantworten mit der Wichtung der zugehörigen Einkopplungsbedingung mit Vollanregung. Die maßgeblichen Prüfverfahren und Einkopplungsbedingungen sollten nach der Faserart gewählt werden.
ANMERKUNG 1 Diese Verfahren werden häufig in Fertigungs- und Forschungseinrichtungen angewendet und können im Feldeinsatz nicht problemlos durchgeführt werden.
ANMERKUNG 2 Einkopplungsbedingung mit Vollanregung wird seit vielen Jahren für die Bewertung von LED-basierenden Anwendungen genutzt. Allerdings ist keine einzelne Einkopplungsbedingung bezeichnend für Laser-Quellen (z. B. VCSEL), die für Übertragungen mit Gigabit oder größeren Datenraten genutzt werden. Dieser Umstand gab den Anstoß zur Entwicklung von IEC 60793-1-49 für die Bestimmung der effektiven Modenbandbreite von Laser-optimierten 50 μm-Fasern. Siehe IEC 60793-2-10:2004 oder später und IEC 61280-4-1:2003 oder später für mehr Informationen.
Die Norm beinhaltet die Grundlagen zur Messung, die Beschreibung des Messaufbaus, die Kalibrierung und die Durchführung, die Dokumentation und Auswertung der Messung.
Die Verfahren sind nicht für die Prüfung von konfektionierten Leitungen im Feld geeignet.
Gegenüber DIN EN 60793-1-41 (VDE 0888-241):2011-06 wurden folgende Änderungen vorgenommen:
a) Einfügen des Abschnitts 6.1.4: Input pulse measurement method A-3: direct reference;
b) Einfügen des Abschnitts 6.2.4: Method B-3: Reference from direct coupling.
Die Norm erhöht durch ihre Anwendung die Investitionssicherheit für Hersteller und Anwender und gibt Prüflaboren und Herstellern definierte Angaben zur Prüfung und sichert Kompatibilität über Herstellergrenzen hinweg.
